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2.5D微系统多物理场耦合仿真及优化
作者姓名:杨中磊  朱慧  周立彦  赵文月  黄卫
作者单位:1. 中国电子科技集团公司第58研究所;2. 无锡中微高科电子有限公司
摘    要:微系统封装需要综合考虑电、热和力学性能的多物理场耦合问题.以某款2.5D微系统封装结构为研究对象,实测验证了2.5D微系统封装仿真模型准确性,完成了关键部件-TSV转接板(Through-Silicon-Via, TSV)的电-热-力多物理场耦合仿真分析.综合分析了TSV转接板的电性能、热性能和力学性能,仿真结果表明,...

关 键 词:2.5D微系统  电-热-力多物理场耦合  优化
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