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多攻击线引起的串扰时延故障的TPG
引用本文:颜学龙,梁晓琳,尚玉玲.多攻击线引起的串扰时延故障的TPG[J].微电子学与计算机,2008,25(11).
作者姓名:颜学龙  梁晓琳  尚玉玲
作者单位:1. 桂林电子科技大学,电子工程学院,广西,桂林,541004
2. 桂林电子科技大学,电子工程学院,广西,桂林,541004;西安电子科技大学,电路CAD研究所,陕西,西安,710071
基金项目:解放军总装备部预研项目
摘    要:探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.

关 键 词:时延故障  多攻击线  自动测试矢量生成  FAN算法

TPG for Crosstalk-Induced Delay Faults by Multiple Aggressors
YAN Xue-long,LIANG Xiao-lin,SHANG Yu-ling.TPG for Crosstalk-Induced Delay Faults by Multiple Aggressors[J].Microelectronics & Computer,2008,25(11).
Authors:YAN Xue-long  LIANG Xiao-lin  SHANG Yu-ling
Abstract:This paper discusses a crosstalk delay maximization algorithm,and by using revised FAN algorithm test vectors are generated.For a sensitization path,the corresponding aggressors and victim are activated appropriately by using revised FAN algorithm,so that the circuit in the worst case has induced the greatest path delay,and more effective delay test is achieved.By using backtrace and backtrack of FAN algorithm,the efficiency of test generation algorithm has be improved.Experimental results show that multiple aggressors coupled to a victim lying along a path can be properly activated,and the algorithm can be applied to the circuits of reasonable sizes.
Keywords:delay fault  multiple aggressors  automatic test pattern generation  FAN algorithm
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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