| 深亚微米SoC中的电源/地网络设计 |
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| 引用本文： | 时昕,王东辉,侯朝焕.深亚微米SoC中的电源/地网络设计[J].微电子学与计算机,2004,21(12):198-202,206. |
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| 作者姓名： | 时昕 王东辉 侯朝焕 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院声学研究所,北京,100080;中国科学院研究生院,北京,100039
2. 中国科学院声学研究所,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家“973”重点基础研究项目资助(G1999032902) |
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| 摘 要： | 随着芯片集成度的不断提高,其上所消耗的功率也在不断增加,因此,电源/地网络设计的可靠性与有效性就成为了SoC设计中一个关键性的问题.以往的设计中,通常都是由设计师根据经验进行电源/地网络的设计,因而可能导致设计效率的降低,延长了芯片的上市时间.针对这个问题,本文首先介绍了IR压降和电迁移现象的产生原因及其影响因素.其次,提出了一种方法,在芯片物理设计的初始阶段,就对其电源/地网络进行可靠的估算,并在估算的基础上进行电源/地网络的设计,从而在设计的早期确保了电源分配的可靠性,提高了设计效率.最后,本文通过一个DSP＆CPU芯片的设计实例,介绍了该方法的使用,并获得了良好的效果.
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| 关 键 词： | 电源分配 电源网络 电迁移 IR压降 信号完整性 可靠性 |
| 文章编号： | 1000-7180(2004)12-198-05 |
Design of Power/Ground Distribution network for Deep-Submicron SoC |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Power distribution Power grids EM (electromigration) IR drop SI (Signal integrity) Reliability |
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