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用一个初始状态生成伪帘尽测试集
引用本文:邵建华,童家榕.用一个初始状态生成伪帘尽测试集[J].微电子学与计算机,1995,12(4):7-9,44.
作者姓名:邵建华  童家榕
摘    要:本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集成生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除和必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。

关 键 词:集成电路  测试  测试码生成  伪穷尽测试集
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