用一个初始状态生成伪帘尽测试集 |
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引用本文: | 邵建华,童家榕.用一个初始状态生成伪帘尽测试集[J].微电子学与计算机,1995,12(4):7-9,44. |
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作者姓名: | 邵建华 童家榕 |
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摘 要: | 本文给出了一种适合于级敏扫描方法(LSSD)的伪穷尽测试集成生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路,使得只需要一个初状态就可生成整个伪穷尽测试集。由于这个特点,消除和必须在ROM中存储多个初始状态的要求,从而简化了测试控制电路及测试过程。
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关 键 词: | 集成电路 测试 测试码生成 伪穷尽测试集 |
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