首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究
引用本文:刘晓兰,朱政强,党元兰,徐亚新.基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究[J].电子与封装,2015(7):37-40.
作者姓名:刘晓兰  朱政强  党元兰  徐亚新
作者单位:1. 河北诺亚人力资源开发有限公司,石家庄 050035; 中国电子科技集团公司第54研究所,石家庄 050081
2. 北京航天控制仪器研究所,北京,100096
3. 中国电子科技集团公司第54研究所,石家庄,050081
摘    要:针对体硅MEMS加工技术的特点,确定了悬浮微结构的加工工艺流程,并对加工过程中的硅基深槽腐蚀工艺和ICP刻蚀工艺这两项关键技术及其中的重要影响因素进行了研究,得到了硅基深槽腐蚀的溶液类型、浓度和温度等工艺参数,以及ICP刻蚀工艺的功率、气体流量等工艺参数。根据优化的工艺参数,采用厚度为400μm的N型<100>硅片加工了外形尺寸为3 mm×3 mm、线宽尺寸为100±2μm、硅槽深度为390±2μm的悬浮微结构样件。

关 键 词:体硅工艺  悬浮微结构  硅基深槽腐蚀  ICP刻蚀

Processing of the Suspended Micro-structure Based on Bulk Silicon MEMS Technology
LIU Xiaolan,ZHU Zhengqiang,DANG Yuanlan,XU Yaxin.Processing of the Suspended Micro-structure Based on Bulk Silicon MEMS Technology[J].Electronics & Packaging,2015(7):37-40.
Authors:LIU Xiaolan  ZHU Zhengqiang  DANG Yuanlan  XU Yaxin
Abstract:
Keywords:bulk silicon processing  suspended micro-structure  silicon trench etching  ICP etching
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号