| 混合信号总线测试 |
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| 引用本文： | 李正光,雷加.混合信号总线测试[J].电子与封装,2005,5(11):26-30. |
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| 作者姓名： | 李正光 雷加 |
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| 作者单位： | 1. 桂林电子工业学院,广西,桂林,541004;怀化学院物理系,湖南,怀化,418008
2. 桂林电子工业学院,广西,桂林,541004 |
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| 摘 要： | 文中介绍了使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149．4测试总线在这些测试中是非常成功的，并同时指出了其局限性。
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| 关 键 词： | KLIC IEEE1149． 4 测试实践 |
| 文章编号： | 1681-1070（2005）11-26-05 |
| 收稿时间： | 2005-02-17 |
| 修稿时间： | 2005年2月17日 |
Experiments on IEEE 1149.4 |
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| Li Zheng-guang,Lei Jia.Experiments on IEEE 1149.4[J].Electronics & Packaging,2005,5(11):26-30. |
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| Authors: | Li Zheng-guang Lei Jia |
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| Affiliation: | 1. Guilin University of Electronic Technology, Guangxi Guilin 541004, China; 2. Physics Department of Huaihua College, Hunan Huaihua 418008, China |
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| Abstract: | The paper presents some results of the experiments on IEEE 1149． 4 KLIC test chip.The practical test results show that the mixed-signal test but(IEEE1149． 4) is successful in testing simple interconnect and extended interconnect for mixed-signal system,PCB,chip level integrated circuit,but not solve all test problems for Mixed-Signal Ics. |
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| Keywords: | KLIC IEEE1149 4 |
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