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双口RAM在嵌入式系统调试中的应用
引用本文:赵建东,陈恳,王广炎.双口RAM在嵌入式系统调试中的应用[J].电子产品世界,2002(1):62-63.
作者姓名:赵建东  陈恳  王广炎
作者单位:1. 清华大学精仪系
2. 西北工业大学十系
摘    要:本文结合双口RAM特点,介绍了它在嵌入式PLC系统软硬件调试中的应用,总结了双口RAM在嵌入式系统设计和调试中简捷高效的优点.

关 键 词:双口RAM  嵌入式  系统调试

The application of dual port to debugging embedded system
Abstract:
Keywords:
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