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扫描探针显微镜的最新技术进展及应用
引用本文:赵清亮,王景贺,李旦,董申.扫描探针显微镜的最新技术进展及应用[J].电子显微学报,2000,19(1):69-75.
作者姓名:赵清亮  王景贺  李旦  董申
作者单位:哈尔滨工业大学精密工程研究所,哈尔滨,150001
摘    要:本文在讨论SPM基本原理和应用的基础上,详细介绍了近期SPM的最新技术进展和成像模式以及拓展的应用领域,使我们能对SPM有一个全新的认识和了解,以便把它们更好地应用到研究领域中。

关 键 词:扫描探针显微镜  原子力显微镜  表面应用  成像原理  工作模式

Innovations and developments of scanning probe microscopy
ZHAO Qing-liang,WANG Jing-he,LI Dan,DONG Shen.Innovations and developments of scanning probe microscopy[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2000,19(1):69-75.
Authors:ZHAO Qing-liang  WANG Jing-he  LI Dan  DONG Shen
Abstract:
Keywords:scanning probe microscope  AFM  surface application  imaging principle  operation mode
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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