| 已知晶体电子衍射指标化中的实际问题 |
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| 引用本文： | 施洪龙,雒敏婷,王文忠.已知晶体电子衍射指标化中的实际问题[J].电子显微学报,2015(1). |
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| 作者姓名： | 施洪龙 雒敏婷 王文忠 |
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| 作者单位： | 1. 中央民族大学理学院
2. 中国科学院过程工程研究所,北京,100081 |
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| 基金项目： | 北京高等学校青年英才计划项目(No． YETP1297)；中央高校基本科研业务费专项资金资助(No．2014MDLXYQN09)；北京市大学生科学研究与创业行动计划(No． BEIJ2014110004)；中央民族大学本科生研究训练计划(No． URTP2014110037)． |
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| 摘 要： | 电子衍射是晶体结构分析最为常用的实验技术之一，电子衍射花样能直接反映晶体倒易点阵的特征。但利用传统方法对电子衍射花样进行指标化相当耗时、繁杂。为此，本文基于一些常用软件和DM插件对指标化过程中衍射点间距的测量、晶面间距的计算和米勒指数的指认等环节进行实例分析，对指标化过程中的一些常见问题进行可行性讨论，以期实现更为便捷的衍射分析。
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| 关 键 词： | 电子衍射 指标化 衍射分析 |
Indexing methods on the electron diffraction pattern of the known crystal |
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| SHI Honglong,LUO Minting,WANG Wenzhong.Indexing methods on the electron diffraction pattern of the known crystal[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2015(1). |
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| Authors: | SHI Honglong LUO Minting WANG Wenzhong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | electron diffraction indexing diffraction analysis |
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