| 高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC |
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| 引用本文： | 万威,唐春艳,王迪,何万中,王怀斌,李方华.高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC[J].电子显微学报,2005,24(4):374-374. |
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| 作者姓名： | 万威 唐春艳 王迪 何万中 王怀斌 李方华 |
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| 作者单位： | 中国科学院物理研究所,北京凝聚态物理国家实验室,北京,100080 |
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| 摘 要： | 高分辨电子显微像因离焦量和晶体厚度等因素的影响，未必能正确反映晶体结构。为此，李方华等建立并发展了高分辨像的解卷处理技术，将单张高分辨像恢复为结构像，并提高像的分辨率。DEC是为高分辨像解卷处理编写的配套计算机程序，将此程序应用于Si0.75Ge0.24晶体中缺陷的实验高分辨像，
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| 关 键 词： | 高分辨像 电子显微像 DEC 处理程序 晶体厚度 晶体结构 解卷处理 计算机程序 程序应用 |
DEC:A computer program for deconvolution processing of high-resolution electron microscope images |
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| WAN Wei,TANG Chun-yan,WANG Di,HE Wan-zhong,WANG Huai-bin,LI Fang-hua.DEC:A computer program for deconvolution processing of high-resolution electron microscope images[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2005,24(4):374-374. |
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| Authors: | WAN Wei TANG Chun-yan WANG Di HE Wan-zhong WANG Huai-bin LI Fang-hua |
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