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球磨Si50C50混合粉末合成SiC的高分辨电镜观察
引用本文:杨晓云,吴玉琨,叶恒强.球磨Si50C50混合粉末合成SiC的高分辨电镜观察[J].电子显微学报,2000,19(4):409-410.
作者姓名:杨晓云  吴玉琨  叶恒强
作者单位:中国科学院金属研究所固体原子像开放实验室,沈阳,110015
基金项目:国家自然科学基金,59671031,
摘    要:SiC作为一种重要的工业原料,可以利用很多方法制备而成.工业用的SiC通常采用传统的Acheson过程,用碳还原SiO2,温度需达到2000℃~2300℃1].文献2,3]报道了在室温球磨 Si50C50 混合粉末可获得SiC.但是在这些文献中,所提供的证据均来自于X射线衍射,透射电镜以及扫描电镜等的实验结果,没有提供直观的原子尺度观察,因而对于其微观反应机制的理解缺乏足够的证据.

关 键 词:球磨  碳化硅  电镜

HREM observations of the synthesized SiC under BM
YANG Xiao-yun,WU Yu-kun,YE Heng-qian.HREM observations of the synthesized SiC under BM[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2000,19(4):409-410.
Authors:YANG Xiao-yun  WU Yu-kun  YE Heng-qian
Abstract:
Keywords:
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