TEM图像分析测定片状粉体的三维粒度分布 |
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引用本文: | 李正民,虞伟钧.TEM图像分析测定片状粉体的三维粒度分布[J].电子显微学报,2004,23(4):427-427. |
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作者姓名: | 李正民 虞伟钧 |
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作者单位: | 1. 山东理工大学材料科学与工程学院,山东,淄博,255049 2. 齐鲁石化研究院,山东,淄博,255400 |
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摘 要: | 目前,多数粒度仪是以球形颗粒为模型设计的。用于由大量片状颗粒构成的粉体的测定,误差较大,测定结果不能反映不同方向的尺寸。由于片状颗粒处于平躺和竖立状态的图像差别很大,仅对其两维图像进行分析,难以给出三维粒度结果。为此,提出了金属投影透射电镜(TEM)图像分析测定粉体三维
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关 键 词: | 片状粉体 三维粒度分布 图像分析 透射电子显微镜 |
Determination of distribution of flat particle 3-dimension size by TEM image analysis |
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