| 一种高效的门级电路可靠度估算方法 |
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| 引用本文： | 蔡烁*,邝继顺,刘铁桥,周颖波.一种高效的门级电路可靠度估算方法[J].电子与信息学报,2013(5). |
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| 作者姓名： | 蔡烁* 邝继顺 刘铁桥 周颖波 |
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| 作者单位： | 1. 湖南大学信息科学与工程学院 长沙 410082
2. 长沙理工大学计算机与通信工程学院 长沙 410004 |
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| 摘 要： | 随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一.为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法.首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性.通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度.
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| 关 键 词： | VLSI 软差错 概率门模型 概率转移矩阵 电路可靠度 |
An Efficient Reliability Estimation Method for Gate-level Circuit |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | VLSI Soft error Probabilistic gate model Probabilistic Transfer Matrix (PTM) Circuit reliability |
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