| 基于ML-Ⅱ方法的k/n-系统Bayes可靠性评估 |
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| 引用本文： | 程皖民,冯静,周经伦,孙权.基于ML-Ⅱ方法的k/n-系统Bayes可靠性评估[J].电光与控制,2007,14(1):22-24. |
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| 作者姓名： | 程皖民 冯静 周经伦 孙权 |
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| 作者单位： | 国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一.为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性.
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| 关 键 词： | 可靠性评估 k/n-系统 Bayes 次序统计量 第二类极大似然估计 |
| 文章编号： | 1671-637X（2007）01-0022-03 |
| 修稿时间： | 2006-04-262006-06-29 |
Bayes reliability assessment for k- out- of- n system based on ML-Ⅱ method |
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| CHENG Wan-min,FENG Jing,ZHOU Jing-lun,SUN Quan.Bayes reliability assessment for k- out- of- n system based on ML-Ⅱ method[J].Electronics Optics & Control,2007,14(1):22-24. |
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| Authors: | CHENG Wan-min FENG Jing ZHOU Jing-lun SUN Quan |
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| Affiliation: | Information System and Management School, NUDT, Changsha 410073, China |
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