| 电子安全与解除保险装置安全性测试方法 |
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| 引用本文： | 马继存,齐杏林,吕静.电子安全与解除保险装置安全性测试方法[J].信息技术,2015(3):182-185,189. |
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| 作者姓名： | 马继存 齐杏林 吕静 |
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| 作者单位： | 军械工程学院弹药工程系 |
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| 摘 要： | 通过分析电子安全与解除保险装置的原理,得出了实现安全与解除保险逻辑的两片独立IC器件对保证全电子安全系统的安全性至关重要。针对使用FPGA实现的独立IC器件,引进嵌入式软件黑盒测试技术来对其进行测试。结合相关国军标给出了对安全与解除保险逻辑电路测试的要求,并以解除保险逻辑形式中的一种为例,说明了对安全与解除保险逻辑电路进行测试的测试用例的生成方法。
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| 关 键 词： | 电子安全与解除保险装置 FPGA 黑盒测试技术 安全性测试 等价类划分 |
Electronic safety and arming device safety testing method |
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| MA Ji-cun;QI Xing-lin;LV Jing.Electronic safety and arming device safety testing method[J].Information Technology,2015(3):182-185,189. |
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| Authors: | MA Ji-cun;QI Xing-lin;LV Jing |
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| Affiliation: | MA Ji-cun;QI Xing-lin;LV Jing;Department of Ammunition Engineering,Ordnance Engineering College; |
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