| 嵌入式软件测试技术与方法 |
| |
| 引用本文： | 刘颖,祝宇林.嵌入式软件测试技术与方法[J].信息技术,2013(5):185-186,191. |
| |
| 作者姓名： | 刘颖 祝宇林 |
| |
| 作者单位： | 黑龙江省电子信息产品监督检验院 |
| |
| 摘 要： | 随着电子信息技术的不断发展,嵌入式系统得到广泛的应用,硬件的规格和复杂度不断提高,软件代码日益复杂,系统的高可靠性要求给软件测试工作带来了挑战。针对此特点本文介绍了如何在嵌入式软件的生命周期内对嵌入式软件进行全面测试的技术与方法。
|
| 关 键 词： | 软件测试 嵌入式软件 覆盖分析 内存泄露 |
Embedded software test method and technology |
| |
| LIU Ying,ZHU Yu-lin.Embedded software test method and technology[J].Information Technology,2013(5):185-186,191. |
| |
| Authors: | LIU Ying ZHU Yu-lin |
| |
| Affiliation: | (Heilongjiang Provincial Electronic&Information Products Supervision Inspection Institute,Harbin 150090,China) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ |
|
