| 用于60GHz CMOS芯片测试的片上巴伦的设计 |
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| 引用本文： | 郭开喆,黄鹏.用于60GHz CMOS芯片测试的片上巴伦的设计[J].信息技术,2013(1):112-114. |
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| 作者姓名： | 郭开喆 黄鹏 |
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| 作者单位： | 电子科技大学电子工程学院,成都,611731 |
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| 摘 要： | 介绍了一种60GHz频段的测试用片上巴伦,采用调节中间抽头位置的方法来补偿巴伦的不平衡。仿真结果表明其幅度不平衡度为0.01dB,相位不平衡度为2°,损耗为1.1dB。并讨论了如何用二端口矢量网络分析仪来测试巴伦的小信号参数以及如何用巴伦来测试差分电路的差分S参数。
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| 关 键 词： | 60GHz 片上巴伦 测试 CMOS |
Design of on-chip balun used for 60GHz CMOS chip measurement |
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| GUO Kai-zhe
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HUANG Peng.Design of on-chip balun used for 60GHz CMOS chip measurement[J].Information Technology,2013(1):112-114. |
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| Authors: | GUO Kai-zhe HUANG Peng |
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