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一种感应PN结隧穿场效应晶体管
作者单位:;1.南通大学电子信息学院
摘    要:提出了一种在源区形成感应PN结的隧穿场效应晶体管,利用Silvaco TCAD对器件的工作原理进行了验证,并仿真分析了器件的静态电学特性以及动态特性。结果表明,这种结构的TFET具有低的亚阈值斜率(51mV/dec.)、高的开态电流(5.88μA/μm)、高的开/关态电流比(ION/IOFF为107)以及低至9ps的本征延迟时间,表明利用该结构的TFET器件有望构成高速低功耗逻辑单元。

关 键 词:隧穿场效应晶体管  带带隧穿  亚阈值斜率

Tunneling Field-effect Transistor with Induced PN Junction
Abstract:
Keywords:
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