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相对介电常数大于100的BST(钛酸锶钡)薄膜
引用本文:张龙,朱健,林立强,卓敏.相对介电常数大于100的BST(钛酸锶钡)薄膜[J].固体电子学研究与进展,2005,25(1):64-64.
作者姓名:张龙  朱健  林立强  卓敏
作者单位:南京电子器件研究所,南京电子器件研究所,南京电子器件研究所,南京电子器件研究所 南京,210016,南京,210016,南京,210016,南京,210016
摘    要:南京电子器件研究所采用 RF磁控溅射法成功研制出室温下相对介电常数高于 1 0 0的 BST薄膜。采用具有自主知识产权的工艺技术制作了大直径 BST溅射靶材 ,用这种靶材制作 Pt/BST/Pt薄膜电容 ,在 Si/Si O2 衬底上溅射 BST,其膜厚典型值 2 80 nm。该技术采用了在 RF磁控溅射 BST时

关 键 词:南京电子器件研究所  相对介电常数  BST薄膜  磁控溅射

BST Films with Dielectric Constant Exceeded100
Abstract:
Keywords:
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