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短沟道双栅MOSFET二维表面势解析模型
引用本文:王睿,赵青云,朱兆旻,顾晓峰.短沟道双栅MOSFET二维表面势解析模型[J].固体电子学研究与进展,2013,33(4).
作者姓名:王睿  赵青云  朱兆旻  顾晓峰
作者单位:轻工过程先进控制教育部重点实验室,江南大学电子工程系,江苏,无锡,214122
基金项目:国家自然科学基金资助项目,中央高校基本科研业务费专项资金资助项目,专用集成电路与系统国家重点实验室开放研究课题基金资助项目,江苏高校优势学科建设工程,江苏省六大人才高峰资助项目
摘    要:采用分解电势的方法求解二维泊松方程,建立了考虑电子准费米势的短沟道双栅MOSFET的二维表面势模型,并在其基础上导出了阈值电压、短沟道致阈值电压下降效应和漏极感应势垒降低效应的解析模型。研究了不同沟道长度、栅压和漏压情况下的沟道表面势,分析了沟道长度和硅膜厚度对短沟道效应的影响。研究结果表明,电子准费米势对开启后的器件漏端附近表面势有显著影响,新模型可弥补现有模型中漏端附近表面势误差较大的缺点;对于短沟道双栅MOSFET,适当减小硅膜厚度可抑制短沟道效应。

关 键 词:双栅金属氧化物半导体场效应管  表面势  阈值电压  短沟道效应  解析模型

2-D Analytical Surface Potential Model for Short Channel DG MOSFETs
WANG Rui , ZHAO Qingyun , ZHU Zhaomin , GU Xiaofeng.2-D Analytical Surface Potential Model for Short Channel DG MOSFETs[J].Research & Progress of Solid State Electronics,2013,33(4).
Authors:WANG Rui  ZHAO Qingyun  ZHU Zhaomin  GU Xiaofeng
Abstract:
Keywords:double-gate (DG) MOSFET  surface potential  threshold voltage  short channel effect  analytical model
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
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