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| 基于虚拟仪器的电缆材料杂质测晕的研究 | |
| 引用本文： | 苏静.基于虚拟仪器的电缆材料杂质测晕的研究[J].电子质量,2009(3). |
| 作者姓名： | 苏静 |
| 作者单位： | [1]青岛科技大学,山东青岛266061 [2]山东科技职业学院,山东潍坊261053 |
| 摘 要： | 运用TCD132D芯片，建立了杂质检测系统。通过虚拟示波器DSO2902对系统采集的数据进行分析和处理，从而有效的识别杂质颗粒的存在与否并能够准确的计算出存在杂质颗粒的尺寸、位置等。结果表明，该系统能够准确的测出XLPE电缆料的杂质颗粒的横向与纵向尺寸，并能够确定该杂质颗粒所处的准确位置与杂质颗粒的个数等特性，其分辨力可达到20m，误差小于10％，杂质的检出率达100％。 |
| 关 键 词： | 虚拟仪器 杂质颗粒 CCD DS02902 |
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