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| 藉卤化物形式挥发分离锡及其在分析化学上的应用 | |
| 引用本文： | 周显康.藉卤化物形式挥发分离锡及其在分析化学上的应用[J].云南冶金,1981(4). |
| 作者姓名： | 周显康 |
| 作者单位： | 云锡公司中心试验所 |
| 摘 要： | 含锡物料中各种组分的分析都要考虑锡的干扰问题,对于微量组分的分析,尚需采取予先富集的办法.锡的干扰主要有以下几种情况:由于锡盐极易水解,在近中性时生成的水解产物影响其他元素的测定;另外锡(Ⅱ)具强还原性,在氧化还原方法中产生干扰;锡离子对一些显色剂有反应,如不分离或掩蔽,则不可能得到正确的分析结果.含锡物料中微量杂质的测定,虽在某些情况下可采用加入掩蔽剂的办法消除锡的干扰,但往往由于加入掩蔽剂后使分析灵敏度降 |
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