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二氧化钒薄膜制备研究的最新进展
引用本文:丰世凤,宁桂玲,王舰,林源.二氧化钒薄膜制备研究的最新进展[J].化工进展,2007,26(6):814-818.
作者姓名:丰世凤  宁桂玲  王舰  林源
作者单位:大连理工大学化工学院精细化工国家重点实验室,辽宁,大连,116012
摘    要:VO2在68℃附近发生从高温金属相到低温半导体相的突变,且相变可逆。由于相变前后其电、磁、光性能有较大的变化,使得它在光电开关材料、存储介质、气敏传感器和智能玻璃等方面有着广泛的应用。然而由于VO2稳定存在的组分范围狭窄,使得制备高纯度VO2薄膜较为困难。为此人们做了很多工作来研究VO2薄膜的制备。本文综述了2000年以来VO2薄膜制备方法的研究情况,比较了各种制备方法对薄膜性能的影响,介绍了VO2薄膜研究的最新研究进展,并为扩大其应用领域而探讨了今后的研究方向。

关 键 词:二氧化钒  相变  薄膜制备
文章编号:1000-6613(2007)06-0814-05
收稿时间:2006-12-04
修稿时间:2006-12-042007-04-05

Recent progress of research on VO2 thin film
FENG Shifeng,NING Guiling,WANG Jian,LIN Yuan.Recent progress of research on VO2 thin film[J].Chemical Industry and Engineering Progress,2007,26(6):814-818.
Authors:FENG Shifeng  NING Guiling  WANG Jian  LIN Yuan
Affiliation:State Key Laboratory of Fine Chemicals, School of Chemical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116012, Liaoning, China
Abstract:
Keywords:VO2  phase transition  film preparation
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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