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| 基于电化学腐蚀法的钨探针制备研究 | |
| 引用本文： | 孙宏君,裘进浩,季宏丽,朱孔军,陈远晟.基于电化学腐蚀法的钨探针制备研究[J].应用化工,2015(4):761-763. |
| 作者姓名： | 孙宏君 裘进浩 季宏丽 朱孔军 陈远晟 |
| 作者单位： | 南京航空航天大学机械结构力学及控制国家重点实验室;南京理工大学能源与动力工程学院 |
| 摘 要： | 根据电化学腐蚀法的基本原理,研究了简单易操作的钨探针的制备方法,并设计了相应的装置。结果表明,在腐蚀溶液Na OH浓度2 mol/L,电压2 V的条件下,得到了尖端曲率半径约40 nm的钨探针,满足扫描隧道显微镜(STM)使用的需求。 |
| 关 键 词： | 扫描隧道显微镜 探针 电化学腐蚀 曲率半径 |
Research on preparation of tungsten probe based on electrochemical corrosion method |
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| Abstract: | |
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