| 用于背散射电子图像分析的水泥浆体抛光样品制备 |
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| 引用本文： | 王培铭,丰曙霞,刘贤萍. 用于背散射电子图像分析的水泥浆体抛光样品制备[J]. 硅酸盐学报, 2013, 41(2): 211-217 |
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| 作者姓名： | 王培铭 丰曙霞 刘贤萍 |
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| 作者单位： | 同济大学材料科学与工程学院,先进土木工程材料教育部重点实验室,上海200092 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展规划项目(2009CB623104);国家自然科学基金资助项目(51102181) |
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| 摘 要： | 背散射电子图像分析技术可用来定性和定量地研究硬化水泥浆体的微观结构,但用于背散射电子图像分析的水泥浆体需进行抛光处理,如处理不当会显著影响图像分析的准确性和精确性.介绍了水泥浆体样品抛光后的品质要求,分析了不同样品表面缺陷对图像分析结果的影响；针对水泥浆体研究了树脂镶嵌方法对镶嵌深度的影响.结果表明:提高树脂填充度是制备合格抛光样品的关键技术,树脂填充度低的抛光面一般同时存在其他缺陷,如粒子脱落、平光度低:在树脂镶嵌过程中,运用适当的操作方法可提高样品的树脂镶嵌深度.
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| 关 键 词： | 背散射电子像 水泥浆体 样品制备 抛光 树脂镶嵌 填充度 |
Preparation of Flat-polished Specimens of Cement Paste for Backscattered Electron Imaging and Analysis |
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| WANG Peiming,FENG Shuxia,LIU Xianping. Preparation of Flat-polished Specimens of Cement Paste for Backscattered Electron Imaging and Analysis[J]. Journal of The Chinese Ceramic Society, 2013, 41(2): 211-217 |
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| Authors: | WANG Peiming FENG Shuxia LIU Xianping |
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| Affiliation: | (Key Laboratory of Advanced Civil Engineering Materials,Education of Ministry;School of Materials Science and Engineering,Tongji University,Shanghai 200092,China) |
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