| 粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分 |
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| 引用本文： | 杨峰,郭家泽,刘伟洪.粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分[J].化学世界,2020,61(2):110-115. |
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| 作者姓名： | 杨峰 郭家泽 刘伟洪 |
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| 作者单位： | 中国人民武装警察部队黄金第九支队,海南海口571127;中国人民武装警察部队黄金第九支队,海南海口571127;中国人民武装警察部队黄金第九支队,海南海口571127 |
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| 摘 要： | 采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、CaO、MgO、MnO、P_2O_5、TiO_2的质量分数。使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8%～4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。
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| 关 键 词： | 粉末压片 X射线荧光光谱 石墨 |
Determination of Impurities Graphite Using Pressed Powder Pellet Based X-Ray Fluorescence Spectrometry |
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