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磁盘预光刻伺服图形离子刻蚀分析
引用本文:
罗敢,张彪,库少平.磁盘预光刻伺服图形离子刻蚀分析[J].信息记录材料,1997(1).
作者姓名:
罗敢
张彪
库少平
作者单位:
华中理工大学
摘 要:
用离子溅射对磁盘预光刻的何服图形进行干法刻蚀,得到了微米级和亚微米级凹坑的勾槽图形,这对超高记录密度磁盘驱动器的研究具有重要意义,为提高磁盘记录密度开辟了新途径
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