| 线阵CCD测厚系统改进光斑中心定位算法的研究 |
| |
| 引用本文： | 黄静,夏雷,王毅强,王友钊.线阵CCD测厚系统改进光斑中心定位算法的研究[J].浙江理工大学学报,2013,30(4):526-530. |
| |
| 作者姓名： | 黄静 夏雷 王毅强 王友钊 |
| |
| 作者单位： | 1. 浙江理工大学信息学院,杭州,310018
2. 浙江大学生物仪器工程与仪器科学学院,杭州,310011 |
| |
| 摘 要： | CCD探测器的像元大小和测厚系统的定位算法优劣是影响激光测厚系统测量精度的重要因素。针对CCD探测器的像元大小不易改变和算法精度不够的问题,在结合相关法和拟合法的基础上,提出了改进型的算法作为光斑中心亚像素定位算法,并将其应用在激光测厚系统中,以提高激光测厚的精度。研究结果表明,改进定位算法后的激光测厚系统能达到1μm的测量精度。
|
| 关 键 词： | 线阵CCD 激光测厚 相关法 拟合法 |
Research on Improvement of Spot Center Location Algorithm by Linear Array CCD Thickness Measurement System |
| |
| HUANG Jing
,
XIA Lei
,
WANG Yi-qiang
,
WANG You-zhao.Research on Improvement of Spot Center Location Algorithm by Linear Array CCD Thickness Measurement System[J].Journal of Zhejiang Sci-tech University,2013,30(4):526-530. |
| |
| Authors: | HUANG Jing XIA Lei WANG Yi-qiang WANG You-zhao |
| |
| Affiliation: | 1.The School of Information Science and Technology,Zhejiang Sci-Tech University, Hangzhou 310018,China;2.College of Bio-instrument Engineering and Instrument Science, Zhejiang University,Hangzhou 310011,China) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | linear array CCD laser thickness measurement correlation method fitting method |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
