| 嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究 |
| |
| 引用本文： | 彭伟.嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究[J].南京信息工程大学学报,2012,4(3):258-265. |
| |
| 作者姓名： | 彭伟 |
| |
| 作者单位： | 武汉城市职业学院电子信息工程学院,武汉,43006 |
| |
| 基金项目： | 湖北省教育科学“十一五”规划项目(2009B-349) |
| |
| 摘 要： | 介绍了CRC循环冗余校验基本原理及生成多项式表示,分别研究了嵌入式系统CRC 8 Dallas/MaxiM与CRC 16 iBM生成多项式及其硬件描述.以Ds18B20器件的ROMiD/sCRatChpaD数据校验及MODBus总线网络数据帧校验为例,通过对生成多项式及硬件描述的分析研究得出了基本比特型校验算法设计,在数学推导的基础上得出了其改进的比特型校验算法及单字节、半字节查表校验算法.为获得更高的校验速度,提出了一种基于块及多表的校验算法,比较了几种校验算法的ROM空间占用与校验处理速度.所设计的CRC校验程序为嵌入式系统数据的可靠传输提供了重要保证
|
| 关 键 词： | 嵌入式 循环冗余校验 差错控制 校验 生成多项式 算法 |
| 收稿时间： | 2011/11/2 0:00:00 |
Research on embedded system CRC algorithm design |
| |
| PENG Wei.Research on embedded system CRC algorithm design[J].Journal of Nanjing University of Information Science & Technology,2012,4(3):258-265. |
| |
| Authors: | PENG Wei |
| |
| Affiliation: | School of Electronic and Information Engineering, Wuhan City Vocational College, Wuhan 430064 |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | embedded system CRC error control check generating polynomial algorithm |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《南京信息工程大学学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《南京信息工程大学学报》下载全文 |
