| 一个基于神经网络的测试生成系统 |
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| 引用本文： | 陈朝阳,虞厥邦.一个基于神经网络的测试生成系统[J].电子科技大学学报（自然科学版）,1997,26(1):59-62. |
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| 作者姓名： | 陈朝阳 虞厥邦 |
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| 作者单位： | 1.电子科技大学自动化系,光电子技术系 成都 610054 |
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| 基金项目： | 国家"八五"重点科研项目 |
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| 摘 要： | 介绍了一个基于组合电路的Hopfield神经网络模型的测试生成系统,系统中运用概率松驰搜索算法求解给定故障的测试矢量。实验结果表明了该系统的可行性。
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| 关 键 词： | 测试生成 组合电路 神经网络 概率松驰 |
| 收稿时间： | 1996-03-27 |
A Test Generation System Based on Neural Networks |
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| Affiliation: | 1.Dept. of Automation,Dept. of Opto Electronic Technology,UEST of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | During the past several years,a neural network approach for test generation problem in combinational circuits is investigated extensively.A test generation system based on combinational circuit's Hopfield neural network models is decribed in this paper.In the system,the probabilistic relaxation techniques are used to obtain the test vectors.Experimental results confirm the feasibility of this system. |
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| Keywords: | |
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