| 一种基于单片机的相序检测及电机缺相保护方法 |
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| 引用本文： | 王栋,刘利.一种基于单片机的相序检测及电机缺相保护方法[J].电机与控制应用,2006,33(9):50-52. |
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| 作者姓名： | 王栋 刘利 |
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| 作者单位： | 1. 西安西普电力电子有限公司,西安,710119
2. 西安建筑科技大学,西安,710055 |
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| 摘 要： | 介绍了一种新颖的相序检测及电机缺相保护方法,利用单片机实现数字相序检测,并且用相频变换的方法来实现电源缺相检测。该方法硬件电路和算法非常简单,使用在强干扰环境中的电动机电力电子传动装置上,可极大地提高检测及保护的抗干扰性能。
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| 关 键 词： | 数字相序检测 相频变换 缺相保护 |
| 文章编号： | 1673-6540(2006)09-0050-03 |
| 修稿时间： | 2005年11月9日 |
A Novel Method for Phase Sequence Test and Phase-break Protection Based on MCU |
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| WANG Dong,LIU Li.A Novel Method for Phase Sequence Test and Phase-break Protection Based on MCU[J].Electric Machines & Control Application,2006,33(9):50-52. |
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| Authors: | WANG Dong LIU Li |
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| Abstract: | A novel method is introduced that can be used in the power electronic instrument or AC motor control instrument. The digital test technique is used to test the phase sequence and the phase-frequency conversion technique is used to test the line-break breakdown. It can improve the anti-jamming capability of instrument. Furthermore, it improves the veracity of instrument. |
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| Keywords: | digital phase sequence test phase-frequency conversion phase-break protection |
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