| 容性电路微间隙下的接触不良试验研究 |
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| 引用本文： | 杨溢,刘强,张琦,梁清雲.容性电路微间隙下的接触不良试验研究[J].电力电容器与无功补偿,2017,38(1):76-79. |
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| 作者姓名： | 杨溢 刘强 张琦 梁清雲 |
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| 作者单位： | 1. 国网重庆市电力公司万州供电分公司,重庆,404000;2. 三峡大学电气与新能源学院,湖北 宜昌,443002 |
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| 摘 要： | 针对电容器连接件接触不良导致的过热问题,在220 V线路系统上进行了容性电路接触不良试验。通过针板模型模拟电容器连接件在微间隙下的接触不良状况,从接触电阻和局部放电两方面进行试验研究,并试验了负载大小和接触方式对接触不良的影响。研究结果表明,在整个接触不良过程中接触电阻实时变化,但整体上随间隙的增大近似呈指数形式增大,并且受接触方式的影响较大;而在试验负载大小范围内,接触不良局部放电的相位特性基本保持不变,有固定的放电密集区,放电量特性变化较大,受接触方式和负载大小影响较大。
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| 关 键 词： | 针板模型 接触不良 微间隙 容性电路 试验 |
Study on Poor Contact Test of Capacitive Circuit at Micro-gap |
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| YANG Yi,LIU Qiang,ZHANG Qi,LIANG Qingyun.Study on Poor Contact Test of Capacitive Circuit at Micro-gap[J].Power Capacitor $ Reactive Power Compensation,2017,38(1):76-79. |
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| Authors: | YANG Yi LIU Qiang ZHANG Qi LIANG Qingyun |
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