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| 一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统 | |
| 引用本文： | 阎世栋.一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统[J].电气应用,2002(4):21-22,26. |
| 作者姓名： | 阎世栋 |
| 作者单位： | 广东美的电子科技有限公司,528311 |
| 摘 要： | 对MCU处理器软件功能验证的常规方案是逐点输入控制量 ,再逐点监测输出信号的时序和数值。该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制曲线来控制MCU的输入量 ,再实时采集MCU的输出口 ,监测输出信号连续变化的历史波形 ,真实客观评价在连续变化的工况下 ,程序处理的稳定性、可靠性 |
| 关 键 词： | Labview 控制曲线 历史波形 |
| 修稿时间： | 2002年1月4日 |
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