低压终端隔离开关的可靠性改进 |
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引用本文: | 朱文灏,陈雷,郭其一.低压终端隔离开关的可靠性改进[J].电气制造,2015(3):64-66. |
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作者姓名: | 朱文灏 陈雷 郭其一 |
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作者单位: | 同济大学电子与信息工程学院;上海施耐德低压终端电器有限公司 |
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摘 要: | 分析了传统低压终端隔离开关的结构特点、存在的可靠性问题,并针对此提出了一种改进的结构。改进方案简化了产品电路机构,解决了触头运动不平衡问题,改进了触头烧损问题。并采用快速闭合机构和引弧角,大大减少了电弧产生,显著减小了隔离开关的熔焊问题,从而提高了隔离开关的可靠性和使用寿命。
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关 键 词: | 隔离开关 可靠性 结构改进 快速闭合 引弧 |
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