窄条状非晶软磁薄膜磁导率的测量方法及频率特性 |
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引用本文: | 赵永龙.窄条状非晶软磁薄膜磁导率的测量方法及频率特性[J].磁性材料及器件,1994,25(2):59-62. |
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作者姓名: | 赵永龙 |
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作者单位: | 华中理工大学计算机系 |
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摘 要: | 为研究磁头软磁薄膜经加工蚀成条状后磁导率的变化情况以及磁导率随频率的变化规律,本文研究了条状薄膜磁导率的测量方法,并对多种片状薄膜和条状薄膜进行了测试.在此基础上研究了改善磁导率的高频特性的方法.结果表明,薄膜样品刻蚀成主磁极型的条状后,磁导率小于未刻蚀的片状薄膜;随着频率升高至1MHz以后,片状和条状磁导率均呈下降趋势,但条状膜磁导率下降更多;多层膜具有较好的高频特性.
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关 键 词: | 软磁薄膜 磁导率 磁导率谱 磁头 窄条状 |
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