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膜纸复合储能电容器的直流局部放电信号分析方法
引用本文:冉汉政,吴广宁,舒雯,张血琴,于成龙,刘华昌.膜纸复合储能电容器的直流局部放电信号分析方法[J].电工技术学报,2006,21(4):46-49.
作者姓名:冉汉政  吴广宁  舒雯  张血琴  于成龙  刘华昌
作者单位:1. 西南交通大学电气学院,成都,610031
2. 中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳,621900
基金项目:国家自然科学基金,西南交通大学校科研和教改项目
摘    要:检测系统提取直流局部放电(DCPD)信号后,须进一步处理,从而准确判断缺陷状况.描述直流局部放电信号的基本参数是放电量q及放电发生时刻t,通过对膜纸复合储能电容器进行直流局部放电检测,比较了含有不同人工缺陷的电容器的基于△t方法的二维统计分布图及指纹谱图;研究了不同寿命阶段储能电容器的q-n曲线.试验结果表明,基于△t方法的特征谱图能用于区分电容器缺陷类型;不同电容器在老化阶段的q-n曲线变化规律并不一致,说明该曲线难以表征电容器的老化进程.最后,提出采用△t方法来表征电容器绝缘的老化进程.

关 键 词:直流  局部放电  信号分析  老化

Study of DCPD Analyzing Method of Energy-Storage Capacitors
Ran Hanzheng,Wu Guangning,Shu Wen,Zhang Xueqin,Yu Chenglong,Liu Huachang.Study of DCPD Analyzing Method of Energy-Storage Capacitors[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2006,21(4):46-49.
Authors:Ran Hanzheng  Wu Guangning  Shu Wen  Zhang Xueqin  Yu Chenglong  Liu Huachang
Affiliation:1. Southwest Jiaotong University Chengdu 610031 China 2. Academy of Physics Engineering of China Mianyang 621900 China
Abstract:
Keywords:DC  partial discharg(PD)  signal analyzing  aging  
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