| 基于集电极漏电流的IGBT健康状态监测方法研究 |
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| 引用本文： | 刘宾礼,肖飞,罗毅飞,汪波,熊又星.基于集电极漏电流的IGBT健康状态监测方法研究[J].电工技术学报,2017,32(16). |
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| 作者姓名： | 刘宾礼 肖飞 罗毅飞 汪波 熊又星 |
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| 作者单位： | 舰船综合电力技术国防科技重点实验室(海军工程大学) 武汉 430033 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金青年项目，国家自然科学基金重点项目，国家重点基础研究发展计划(973计划) |
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| 摘 要： | 提出一种采用IGBT集电极漏电流对其芯片性能退化进程进行监控的健康状态监测方法。基于IGBT基本结构、半导体物理和器件可靠性物理学,对IGBT电气特征量——集电极漏电流的产生机理、运行规律与性能退化机理进行详细分析,查明了其随性能退化应力水平和施加时间的变化规律。在此基础上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立针对IGBT芯片性能退化的集电极漏电流健康状态监测方法。仿真和实验结果验证了该方法的正确性与准确性。该方法对于实现IGBT芯片性能退化进程监控具有一定的理论意义和应用价值。
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| 关 键 词： | IGBT芯片性能退化 阈值电压 集电极漏电流 健康状态监测方法 |
Investigation into the Health Condition Monitoring Method of IGBT Based on Collector Leakage Current |
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| Liu Binli,Xiao Fei,Luo Yifei,Wang Bo,Xiong Youxing.Investigation into the Health Condition Monitoring Method of IGBT Based on Collector Leakage Current[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2017,32(16). |
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| Authors: | Liu Binli Xiao Fei Luo Yifei Wang Bo Xiong Youxing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Performance degradation of IGBT chip threshold voltage collector leakage current health condition monitoring method |
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