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用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型
引用本文:梁美,郑琼林,李艳,巴腾飞.用于精确预测SiC MOSFET开关特性的分析模型[J].电工技术学报,2017,32(1).
作者姓名:梁美  郑琼林  李艳  巴腾飞
作者单位:北京交通大学电气工程学院 北京 100044
摘    要:为精确估算高频工作状态下SiC MOSFET的开关损耗及分析寄生参数对其开关特性的影响,提出了一种基于SiC MOSFET的精准分析模型。该模型考虑了寄生电感、SiC MOSFET非线性结电容及非线性跨导系数等参数。详细介绍了建立分析模型的原理,并给出了分析模型中各关键参数的提取方法。对比了基于分析模型计算得到的开关波形与实验测试结果,对比电压电流波形匹配度较高,证明了此分析模型的正确性。对比了分析模型的开关损耗与基于实验计算的开关损耗,对比结果显示两者存在偏差,而分析表明基于实验计算开关损耗的方法为不准确方法。最后基于所提出的分析模型分析了不同寄生参数对开关特性的影响,并为优化高频电路设计提出了建议。

关 键 词:分析模型  碳化硅MOSFET  寄生参数  开关特性  开关损耗

Analytical Model of SiC MOSFET for Accurately Predicting the Switching Performance
Liang Mei,Zheng Qionglin,Li Yan,Ba Tengfei.Analytical Model of SiC MOSFET for Accurately Predicting the Switching Performance[J].Transactions of China Electrotechnical Society,2017,32(1).
Authors:Liang Mei  Zheng Qionglin  Li Yan  Ba Tengfei
Abstract:
Keywords:Analytical model  SiC MOSFET  parasitic elements  switching performance  switching loss
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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