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自采样比例积分控制全数字锁相环的性能分析和实现
引用本文:李亚斌,彭咏龙,李和明.自采样比例积分控制全数字锁相环的性能分析和实现[J].中国电机工程学报,2005,25(18):0-69.
作者姓名:李亚斌  彭咏龙  李和明
作者单位:华北电力大学电气工程学院,河北省,保定市,071003
摘    要:提出了一种基于自采样比例积分(PI)控制的全数字锁相环(ADPLL),并对该锁相环进行了详细的理论分析和仿真验证,最后用现场可编程逻辑器件(FPGA)予以实现.由于采用了自采样比例积分控制策略,使该锁相环在不同的锁频点具有几乎相同形式的传递函数,有利于理论分析和环路设计.理论分析、仿真验证和试验结果都表明该全数字锁相环具有环路参数设计简单、跟踪范围广、跟踪速度快、系统稳定性好、控制灵活等优点.该设计方案可以作为一个子系统或功能模块用来构成片上系统(SoC),用以提高控制系统的可靠性、简化系统的硬件结构.

关 键 词:全数字锁相环  自采样  比例积分控制  现场可编程逻辑器件  片上系统
文章编号:0258-8013(2005)18-0064-06
收稿时间:2005-03-02
修稿时间:2005年3月2日

THE IMPLEMENTATION AND ANALYSIS OF A SELF-SAMPLING PI CONTROL ALL DIGITAL PHASE-LOCKED LOOP
LI Ya-bin,PENG Yong-long,LI He-ming.THE IMPLEMENTATION AND ANALYSIS OF A SELF-SAMPLING PI CONTROL ALL DIGITAL PHASE-LOCKED LOOP[J].Proceedings of the CSEE,2005,25(18):0-69.
Authors:LI Ya-bin  PENG Yong-long  LI He-ming
Abstract:
Keywords:All digital phase-locked loop(ADPLL)  Self-sampling  PI control  Field programmable gate array(FPGA)  System on chip(SoC)
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