| 干涉条纹细化的曲线拟合方法 |
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| 引用本文： | 周恕义,金国藩.干涉条纹细化的曲线拟合方法[J].电子测量与仪器学报,1998,12(3):13-17. |
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| 作者姓名： | 周恕义 金国藩 |
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| 作者单位： | 哈尔滨师范大学物理系!哈尔滨，150080，哈尔滨师范大学物理系!哈尔滨，150080，清华大学!北京，100084 |
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| 基金项目： | 黑龙江省自然科学基金，哈尔滨师范大学科研基金 |
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| 摘 要： | 针对干涉图解析不的面形测量，提出了用最小二乘法做二次曲线拟合对干涉条纹进行细化的方法，提高了ＣＣＤ测试精度，给出了实测结果。
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| 关 键 词： | 干涉条纹 细化 曲线拟合 面形测量 |
A Curve Fitting Method for Interference Fringes Thinning |
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| Zhou Shuyi, Guan Chengxiang.A Curve Fitting Method for Interference Fringes Thinning[J].Journal of Electronic Measurement and Instrument,1998,12(3):13-17. |
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| Authors: | Zhou Shuyi Guan Chengxiang |
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| Abstract: | The analytical method for interferogram is usuaully used in measurement on thesurface shape of objects. In this paper a method used in thinning the interference fringes is proposed. By using least Square methed to fit quadric curve, the measurement precision of CCD isincreased. Finally the observed results are given. |
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| Keywords: | Interference fringes Thinning Curve fitting |
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