| IGBT加速老化实验研究 |
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| 引用本文： | 毛娅婕,周雒维,杜雄,孙鹏菊.IGBT加速老化实验研究[J].电源技术,2014(12). |
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| 作者姓名： | 毛娅婕 周雒维 杜雄 孙鹏菊 |
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| 作者单位： | 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室,重庆,400044 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点项目(51137006)；输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室重点项目 |
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| 摘 要： | 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模块作为电力电子设备的关键器件被广泛应用,其工作寿命与可靠性将影响到整个装置或系统的正常运行,对于IGBT可靠性研究具有重要意义。IGBT加速老化实验是研究IGBT可靠性问题的重要方法,其在不改变产品故障机制的前提下,提高实验应力,加速产品的故障进程,能有效缩短实验时间,节约成本。分析了IGBT的失效机理,依据IEC标准,设计了IGBT直流功率循环加速老化实验,自行设计搭建了IGBT加速老化实验系统,能够完成器件的老化以及监测老化前后器件参数的变化。研究成果为IGBT模块的可靠性研究以及健康状态评估提供了重要依据。
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| 关 键 词： | 绝缘栅双极型晶体管 失效机理 加速寿命实验 可靠性 |
Research of IGBT accelerated aging test |
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| MAO Ya-jie,ZHOU Luo-wei,DU Xiong,SUN Peng-ju.Research of IGBT accelerated aging test[J].Chinese Journal of Power Sources,2014(12). |
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| Authors: | MAO Ya-jie ZHOU Luo-wei DU Xiong SUN Peng-ju |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IGBT failure mechanism accelerated aging test reliability |
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