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SiC MOSFET开关特性及多等级栅电压驱动电路
引用本文:乔小可,杨媛,王庆军.SiC MOSFET开关特性及多等级栅电压驱动电路[J].电力电子技术,2019(3).
作者姓名:乔小可  杨媛  王庆军
作者单位:西安理工大学自动化与信息工程学院;西安工程大学电子信息学院;西安中车永电电气有限公司
摘    要:针对新型宽禁带功率半导体器件碳化硅(SiC)金属-氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),为了充分发挥其在高功率密度和高效率应用场合中的高速及低功耗特性,分析了SiC MOSFET的开关特性,提出了一种基于复杂可编程逻辑器件(CPLD)的新型多等级栅电压驱动电路(MGD)。在SiC MOSFET开关不同阶段,通过调整栅极驱动电压以改善其开关特性。与传统驱动电路(CGD)相比,提出的MGD在相同门极驱动电阻与栅源极电容前提下,能有效提高开关速度,降低电压电流尖峰、降低开关损耗。最后通过双脉冲实验,分析了栅极驱动电阻,栅源极电容对开关特性的影响,验证了MGD在改善开关特性方面具有明显的优越性。

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