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关于多芯片模块基板的测试技术
引用本文:贾杏池.关于多芯片模块基板的测试技术[J].国外电子测量技术,1998(4):6-12.
作者姓名:贾杏池
摘    要:

关 键 词:芯片模块测试  基板测试  互连测试  电子产品
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