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| ESD EMP对RAM的辐照效应及加固方法研究 | |
| 引用本文： | 侯民胜,许明辉. ESD EMP对RAM的辐照效应及加固方法研究[J]. 高电压技术, 2003, 29(10): 41-43 |
| 作者姓名： | 侯民胜 许明辉 |
| 作者单位： | 北京航空工程技术研究中心,北京,100076 |
| 摘 要： | 静电放电产生的电磁脉冲 ( ESD EMP)有上升沿陡、频带宽和峰值大等特点 ,对电子系统的干扰和破坏很大。为考察 ESD EMP对电子系统的影响 ,对单片机系统进行了ESD EMP辐照效应实验 ,着重研究了单片机的外部数据存贮器 RAM在其作用下的各种效应。在效应实验基础上研究了 RAM的加固方法 |
| 关 键 词： | ESD EMP RAM 辐照实验 效应 加固 |
| 修稿时间： | 2003-06-23 |
Study on the Irradiating Effect and Defence Mothod of ESD EMP on RAM |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
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