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| 不同温度下弹跳金属微粒对圆盘绝缘子表面电荷积聚的影响 | |
| 引用本文： | 赵慧存,高宇,王文渠,王欢,苑晓晨.不同温度下弹跳金属微粒对圆盘绝缘子表面电荷积聚的影响[J].绝缘材料,2022(10):39-46. |
| 作者姓名： | 赵慧存 高宇 王文渠 王欢 苑晓晨 |
| 摘 要： | 气体绝缘开关设备(GIS)和输电线路(GIL)中的金属微粒在电场作用下可弹跳至绝缘子附近，加剧表面电荷积聚，严重时会引发沿面闪络事故。选取126 kV圆盘绝缘子为试样，设计了同轴电极系统，采用Kelvin型静电探头研究了不同温度下（23、40、60℃）弹跳金属微粒对绝缘子表面电荷积聚特性的影响。结果表明：在室温下，绝缘... |
| 关 键 词： | 气体绝缘设备 绝缘子 表面电荷 弹跳金属微粒 温度 |