|
|||||
|
|
| GIS盆式绝缘子表面缺陷及其诊断方法研究综述 | |
| 引用本文： | 韩帅,高飞,廖思卓,郭瑞,王健,李庆民.GIS盆式绝缘子表面缺陷及其诊断方法研究综述[J].绝缘材料,2022,55(2):12-22. |
| 作者姓名： | 韩帅 高飞 廖思卓 郭瑞 王健 李庆民 |
| 作者单位： | 中国电力科学研究院,北京100192;华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京 102206 |
| 基金项目： | 国家电网公司总部科技项目 |
| 摘 要： | 盆式绝缘子作为气体绝缘组合电器（GIS）最薄弱的绝缘环节，其表面缺陷是提高GIS设备绝缘强度研究中的关键问题。本文首先介绍了气泡缺陷、异物缺陷、表面脏污以及裂纹缺陷等盆式绝缘子常见表面缺陷的产生和发展机理；其次分析总结了盆式绝缘子表面缺陷诱发闪络的发生机制，明确了盆式绝缘子表面电场分布及表面电荷积聚是影响绝缘子沿面闪络... |
| 关 键 词： | 盆式绝缘子 表面缺陷 闪络 局部放电 诊断方法 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |