| 基于量子进化算法的时序电路测试生成 |
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| 引用本文： | 李智,范源远,许川佩.基于量子进化算法的时序电路测试生成[J].微计算机信息,2007,23(35):290-291,310. |
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| 作者姓名： | 李智 范源远 许川佩 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学电子工程学院,桂林,541004 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;广西自然科学基金 |
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| 摘 要： | 本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中，建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明，与同类算法相比，该算法模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。
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| 关 键 词： | 量子进化算法 自动测试生成 时序电路 |
| 文章编号： | 1008-0570（2007）12-2-0290-02 |
| 收稿时间： | 2007-09-23 |
| 修稿时间： | 2007-11-15 |
Test Pattern Generation Based on Quantum Evolutionary Algorithm for Sequential Circuits |
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| LI ZHI,FAN YUANYUAN,XU CHUANPEI.Test Pattern Generation Based on Quantum Evolutionary Algorithm for Sequential Circuits[J].Control & Automation,2007,23(35):290-291,310. |
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| Authors: | LI ZHI FAN YUANYUAN XU CHUANPEI |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | quantum-inspired evolution algorithm ATPG sequential circuit |
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