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基于BBNs的软件残留缺陷预测模型
引用本文:郑翠芳,吴志杰,夏涛,张伟燕.基于BBNs的软件残留缺陷预测模型[J].微计算机信息,2006,22(3):269-274.
作者姓名:郑翠芳  吴志杰  夏涛  张伟燕
作者单位:621900,四川绵阳 中物院计算机应用研究所
基金项目:中国物理研究院预研项目
摘    要:介绍了软件残留缺陷的重要性,简要阐述了目前对残留缺陷进行预测的一些模型,并指出了其中的问题及现有模型适应性不好的原因,提出了基于BBNs的软件残留缺陷数预测模型,给出了模型构建的具体过程。

关 键 词:软件缺陷  软件残留缺陷  贝叶斯信任网  软件残留缺陷预测模型
文章编号:1008-0570(2006)01-3-0269-03
修稿时间:2005年7月7日

Software Residual defects Prediction Models based on BBNs
Zheng, Cuifang,Wu,Zhijie,Xia,Tao,Zhang,Weiyan.Software Residual defects Prediction Models based on BBNs[J].Control & Automation,2006,22(3):269-274.
Authors:Zheng  Cuifang  Wu  Zhijie  Xia  Tao  Zhang  Weiyan
Abstract:The importance of software residual defects and some prediction residual defects models are introduced. The problem that is not easy adapted to a general model is discussed. The model of prediction residual defects based on BBNs is proposed and the detailed processes of the approach are given.
Keywords:Software defects  Software Residual defects  BBNs  Software Residual Defects Prediction Model
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