| 基于JTAG的ARM芯片系统调试 |
| |
| 引用本文： | 杨峰,张根宝,田泽,万永波. 基于JTAG的ARM芯片系统调试[J]. 微计算机信息, 2005, 0(32): 87-89 |
| |
| 作者姓名： | 杨峰 张根宝 田泽 万永波 |
| |
| 作者单位： | 1. 712081,陕西咸阳,陕西科技大学电气与电子工程学院
2. 710069,陕西西安,西北大学电子科学系 |
| |
| 基金项目： | 陕西省教育厅产业化培育项目,项目编号:04JC07 |
| |
| 摘 要： | 嵌入式ARM软、硬件调试技术依赖于ARM处理器调试硬件,本文在分析JTAG边界扫描结构的基础上,介绍了EmbeddedICE、嵌入式跟踪等实时调试技术,并给出了一个嵌入式调试开发系统的实例.
|
| 关 键 词： | ARM JTAG EmbeddedICE 嵌入式跟踪 |
| 文章编号： | 1008-0570(2005)11-2-0087-03 |
| 修稿时间： | 2005-04-26 |
The Debug Technology for ARM Microprocessors based on JTAG |
| |
| Yang,Feng,Zhang,Genbao,Tian,Ze,Wan,Yongbo. The Debug Technology for ARM Microprocessors based on JTAG[J]. Control & Automation, 2005, 0(32): 87-89 |
| |
| Authors: | Yang Feng Zhang Genbao Tian Ze Wan Yongbo |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
