| 微处理器测试系统设计 |
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| 引用本文： | 关国梁,李曦,王恒才,赵振西.微处理器测试系统设计[J].小型微型计算机系统,2003,24(8):1555-1558. |
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| 作者姓名： | 关国梁 李曦 王恒才 赵振西 |
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| 作者单位： | 中国科学技术大学,计算机科学技术系,安徽,合肥,230026 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金 ( 60 2 73 0 42 )资助，安徽省自然科学基金 ( 0 3 0 42 10 1)资助 |
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| 摘 要： | 为了保证微处理器芯片设计的正确性，需要进行大量的仿真和测试，因此需要一个微处理器测试系统，以实现微处理芯片功能的测试和调试．本文分析了微处理器测试系统的功能、组成以及设计中的关键问题．
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| 关 键 词： | 微处理器功能测试 测试系统 软硬件协同设计 |
| 文章编号： | 1000-1220(2003)08-1555-04 |
Test System Design for Microprocessor |
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| GUAN Guo liang,LI Xi,WANG Heng cai,ZHAO Zhen xi.Test System Design for Microprocessor[J].Mini-micro Systems,2003,24(8):1555-1558. |
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| Authors: | GUAN Guo liang LI Xi WANG Heng cai ZHAO Zhen xi |
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| Abstract: | An test system is essential for the emulation and simulation of a Microprocessor design. This paper presents a prototype of the test system. We also introduce the functions, components and some key points in the design. |
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| Keywords: | Microprocessor function test test system hardware/software codesign |
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